先端ロジックやHBM、先端パッケージの量産立ち上げが重なり、半導体工場は日常的にレシピ変更や装置マッチングを迫られている。こうした環境で能力を発揮するのは、装置とデータを横断して改善できる人材だ。そのキーワードはSPC（工程の常時監視）、FDC（装置異常の早期検知）、APC（測定結果で条件を自動補正）。加えてWafer Map解析で空間パターンから根因を絞り込み、Python＋SQLで自分の手で抽出・前処理・可視化・アラート化までをつなぐ。これが、歩留まりとスループットを同時に押し上げる最短ルートなのだ。
本稿は、若手〜中堅のプロセス・歩留まり・製造技術エンジニアが、装置×データでラインを牽引し、数字で成果を創出するための方法を、すぐ実行できる順番で提示する。現場での“問題の可視化”だけで終わらせず、意思決定に直結する指標設計と制御の設計まで踏み込み、キャリアを引き上げる道筋を示す。
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